O Laboratório de Microscopia Eletrônica de Transmissão oferece à comunidade cientifica técnicas de análises estruturais e espectroscópicas com resolução espacial atômica. Para isto, possui infraestrutura com quatro microscópios eletrônicos de transmissão com câmeras para captura de imagens e difração de elétrons e espectrômetros para capturas de fótons de raios-X característicos da amostra, bem como para medir a pedra da energia dos elétrons após interagir com a amostra. Sendo assim, o tamanho, a morfologia, a estrutura cristalina, a composição química e o estado eletrônica (oxidação, redução, hibridização, entre outros) de objetos nanométricos podem ser caracterizados com resolução atômica. Além disso, é possível observar características elétrica e magnéticas das amostras com resolução nanométrica e realizar as caracterizações descritas acima utilizando porta-amostras para líquidos de aquecimento (23oC a 1200oC).

Descrição: Microscópio eletrônico de transmissão, com canhão de elétrons LaB6 e voltagem de aceleração de 200 kV, para operar nos modos TEM e STEM, com resoluções espaciais de 0,25 nm e 1 nm respectivamente. Conta com um detector de EDS, para realizar mapeamentos por espectroscopia de raios X por dispersão em energia, um detector de campo claro para STEM e câmeras para registro de imagens de TEM de áreas micrométricas grandes ou de alta resolução de áreas nanométricas grandes (CMOS, 4kx4k) e difrações de elétrons. Possibilidade de uso de porta-amostras criogênico para analisar amostras sensíveis ao feixe de elétrons, porta-amostras de aquecimento para análises in situ aumentando a temperatura até 1200 °C e porta-amostras para tomografia de elétrons.

Especificações:

Modos de Imagens:

CTEM; HRTEM; BF-TEM; DF-TEM; BF-STEM.

Modos de Difrações de Elétrons:

SAED; NBD; CBED; PDF.

Classe(s) de Espectroscopia(s):

EDS.

Outras Técnicas Disponíveis:

Aquecimento in situ, tomografia de elétrons, criomicroscopia.

Descrição: Microscópio eletrônico de transmissão, com feixe de elétrons emitido por efeito de campo e voltagem de aceleração de 200 kV, para operar nos modos TEM e STEM, ambos com 0,19 nm de resolução espacial. Conta com um detector de EDS, para realizar mapeamentos por espectroscopia de raios X por dispersão em energia, e um detector de EELS, para realizar mapeamentos por espectroscopia de perda de energia de elétrons com resoluções de 1 eV. Possui três detectores diferentes de STEM (HAADF, DF e BF), para obter imagens segundo o  número atômico, e câmeras CCD para registro de imagens de áreas micrométricas grandes ou de alta resolução e difrações de elétrons. Possibilidade de uso de porta-amostras criogênico para analisar amostras sensíveis ao feixe de elétrons.

Especificações:
Modos de Imagens:

CTEM; HRTEM; BF-TEM; DF-TEM; BF-STEM; ADF-STEM; HAADF-STEM; Lorentz.

Modos de Difrações de Elétrons:

SAED; NBD; CBED; PDF.

Classe(s) de Espectroscopia(s):

EDS, EELS.

Outras Técnicas Disponíveis:

Aquecimento In situ, criomicroscopia.

Descrição: Microscópio eletrônico de transmissão, duplamente corrigido e monocromado, com resoluções até 0,6 Ångströms e duas voltagens de aceleração de elétrons (80 kV e 300 kV), para operar nos modos TEM e STEM e analisar uma variedade de amostras segundo a sua sensibilidade ao feixe de elétrons. Conta com quatro detectores de EDS, para realizar mapeamentos por espectroscopia de raios X por dispersão em energia, em alta resolução e em poucos minutos de coleta. Possui quatro detectores diferentes de STEM (HAADF, DF-convencional, DF-segmentado e BF), para obter imagens de alta resolução segundo o número atômico ou por contraste de fase. Dispõe também de uma câmera CMOS 4kx4k, com registro dinâmico e dois porta-amostras in situ: um de aquecimento, para aumento da temperatura a partir da ambiente até 1300 °C, específico para amostras de nanopartículas e lamelas preparadas por FIB; e um porta-amostras de célula líquida, para analisar estruturas e processos dinâmicos de materiais e amostras biológicas em ambientes líquidos, no modo estático ou em fluxo de líquido.

Especificações:
Modos de Imagens:

CTEM; HRTEM; BF-TEM; DF-TEM; NCSI-HRTEM (Negative Cs Imaging); BF-HRSTEM; ABF-HRSTEM; ADF-HRSTEM; HAADF-HRSTEM; DPC-HRSTEM; mono-HRTEM; mono-HRSTEM; Lorentz.

Modos de Difrações de Elétrons:

SAED; NBD; CBED; PDF; 4D-STEM.

Classe(s) de Espectroscopia(s):

EDS como resolução atômica.

Outras Técnicas Disponíveis:

TEM e STEM in situ de aquecimento para nanopartículas e lamelas por FIB; TEM e STEM in situ de fases líquidas; tomografia de elétrons por TEM e STEM; criomicroscopia.

Descrição: Microscópio eletrônico de transmissão, com feixe de elétrons emitido por efeito de campo e voltagem de aceleração de 200 kV. Equipado com uma câmera CMOS 4k x 4k que permite aquisições em baixa dose e porta amostras criogênicos de entrada lateral. Software para coleta automatizada de imagens.
Especificações: Usado para análises preliminares de biologia estrutural, materiais moles e difração de elétrons.