Carlos A. Ospina R. / LNNano
A microscopia eletrônica possibilita a caracterização estrutural e espectroscópica local dos materiais, e contribui com o aprimoramento das funcionalidades dos materiais, através do entendimento das correlações entre os parâmetros de síntese e/ou de processos, a estrutura, e as propriedades. Porém, o aperfeiçoamento das técnicas de caracterização é de fundamental importância para propor modelos mais precisos que suportem as novas (nano)tecnologias. Nesta breve apresentação se irá contextualizar a Microscopia Eletrônica de Transmissão Corrigida, e mostrar as configurações do primeiro microscópio duplamente corrigido no Brasil, as aplicações já reportadas usando o Titan Cubed Themis 300, assim como as potenciais aplicações disponíveis no LNNano