MICROSCOPIA ELETRÔNICA

A estrutura cristalográfica dos materiais, assim como a sua composição química e os estados de ligação dos elementos químicos constituintes são analisados e visualizados nos microscópios eletrônicos a níveis atômico, nanométrico e micrométrico, rotineiramente. Os avanços tecnológicos das últimas décadas também permitem observar e analisar in situ, fenômenos dinâmicos cada vez com mais precisão e reprodutibilidade em dimensões atômicas e nanométricas.

O LNNano disponibiliza para a comunidade científica nacional e internacional, alternativas de acesso a uma gama ampla de técnicas convencionais e avançadas das microscopias eletrônicas de varredura, de transmissão e de duplo feixe.

Infraestrutura

JEOL JEM-2100

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JEOL JEM-2100

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JEOL JEM-2100F

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JEOL JEM-2100F

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Thermo Fisher/FEI Titan Cubed Themis

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Thermo Fisher/FEI Titan Cubed Themis

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Thermo Fisher Scientific Quanta 650 FEG

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Thermo Fisher Scientific Quanta 650 FEG

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Thermo Fisher Scientific Inspect F50

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Thermo Fisher Scientific Inspect F50

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Thermo Fisher Scientific Helios NanoLab 660

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Thermo Fisher Scientific Helios NanoLab 660

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Galeria de imagens – Técnicas e aplicações

Imagem de TEM de campo claro (a) e seu correspondente padrão de elétrons de área selecionada (b), de uma liga de alumínio ao longo do eixo de zona [110] e a suas fases dominantes.
Imagens de nanopartículas de Ouro-Paládio por HAADF-HRSTEM (à direita) e BF-HRSTEM (à esquerda).
Imagens de nanopartículas de Fe3O4 obtidas por cada uma das quatro áreas do detector DF segmentado em modo STEM e sua correspondente imagem da intensidade e direção do campo magnético dentro das nanopartículas, processada pela diferença de contraste de fase (DPC, Differential Phase Contrast).