MICROSCOPIA DE FORÇA ATÔMICAA microscopia de força atômica (AFM) se tornou uma ferramenta muito presente na caracterização de superfícies, devido à sua flexibilidade de operação, variedade de propriedades analisadas e resolução na escala nanométrica.
As instalações abertas têm como missão fornecer aos usuários uma infraestrutura de pesquisa com a melhor performance possível. Atualmente operam com quatro microscópios, com uma grande variedade de técnicas relacionadas às áreas de física, química, ciência dos materiais e biologia. Uma equipe de especialistas e técnicos está à disposição para auxiliar a execução dos projetos de pesquisa, explorando os limites dos instrumentos disponíveis.
Infraestrutura
Park Systems - NX10
Descrição
O AFM NX10 é um instrumento com flexibilidade para analisar amostras com dimensões e formatos diversificados. Encontra-se equipado com vários módulos opcionais, o que disponibiliza a realização de uma grande variedade de técnicas correlatas. Destaca-se pela operação conjunta com seu microscópio óptico, utilizado para uma prévia localização óptica da área de interesse. É indicado para varreduras em áreas de 2µm x 2µm até 100µm x 100µm, com controle de temperatura e umidade.
Especificações
• Drive XY de 100µm x 100µm
• Drive Z de 10µm
• Controladora 24bits
• Estágio para deslocamento XY da amostra
motorizado (20mm x 20mm)
• Câmara ambiental para controle de umidade
relativa de 0,5% até 80%
• Controle de temperatura de ambiente até 60°C
• Microscópio óptico com objetiva de 10x de aumento
• Cela líquida aberta
Técnicas
• Contato ou contato intermitente (AFM)
• Força lateral (LF-AFM)
• Contraste de fase
• Força modulada
• Espectroscopia de força
• Força Magnética (MFM)
• Força elétrica (EFM)
• Potencial de superfície (KPFM)
• Capacitância (SCM)
• Acoplamento capacitivo (dC/dz)
• Condutividade (c-AFM)
• Piezoresposta (PFM)
• Nanoindentação
• Nanolitografia
Descrição
Especificações
Técnicas
Park Systems - NX10
Descrição
O AFM NX10 é um instrumento com flexibilidade para analisar amostras com dimensões e formatos diversificados. Encontra-se equipado com vários módulos opcionais, o que disponibiliza a realização de uma grande variedade de técnicas correlatas. Destaca-se pela operação conjunta com seu microscópio óptico, utilizado para uma prévia localização óptica da área de interesse. É indicado para varreduras em áreas de 2µm x 2µm até 100µm x 100µm, com controle de temperatura e umidade.
Especificações
• Drive XY de 100µm x 100µm
• Drive Z de 10µm
• Controladora 24bits
• Estágio para deslocamento XY da amostra
motorizado (20mm x 20mm)
• Câmara ambiental para controle de umidade
relativa de 0,5% até 80%
• Controle de temperatura de ambiente até 60°C
• Microscópio óptico com objetiva de 10x de aumento
• Cela líquida aberta
Técnicas
• Contato ou contato intermitente (AFM)
• Força lateral (LF-AFM)
• Contraste de fase
• Força modulada
• Espectroscopia de força
• Força Magnética (MFM)
• Força elétrica (EFM)
• Potencial de superfície (KPFM)
• Capacitância (SCM)
• Acoplamento capacitivo (dC/dz)
• Condutividade (c-AFM)
• Piezoresposta (PFM)
• Nanoindentação
• Nanolitografia
Descrição
Especificações
Técnicas
Bruker - MultiMode8
Descrição
O AFM MultiMode8 é um instrumento indicado para análises de alta resolução, permitindo varreduras em áreas de 500nm x 500nm até 10µm x 10µm. Utilizado para análises de materiais nanoestruturados, como materiais 2D, nanofibrilas e nanopartículas. A limitação nas dimensões das amostras é no máximo de 15mm de diâmetro e 2mm de espessura.
Especificações
•Drive XY de 10µm x 10µm
•Drive Z de 4µm
•Controladora NanoScope V 16bits
•Estágio para deslocamento XY da amostra manual
(2mm x 2mm)
•Câmara ambiental para controle de umidade
relativa de 5% até ambiente
•Microscópio óptico com objetiva de 10x de aumento
Técnicas
• Contato ou contato intermitente (AFM)
• Força pulsada (PeakForce Tapping)
• Força lateral (LF-AFM)
• Contraste de fase
• Força modulada
• Espectroscopia de força
• Força Magnética (MFM)
• Força Elétrica (EFM)
• Potencial de superfície (KPFM)
• PeakForce TUNA (PF-TUNA)
• Piezoresposta (PFM)
• Nanomecânica (PF-QNM)
Descrição
Especificações
Técnicas
Bruker - MultiMode8
Descrição
O AFM MultiMode8 é um instrumento indicado para análises de alta resolução, permitindo varreduras em áreas de 500nm x 500nm até 10µm x 10µm. Utilizado para análises de materiais nanoestruturados, como materiais 2D, nanofibrilas e nanopartículas. A limitação nas dimensões das amostras é no máximo de 15mm de diâmetro e 2mm de espessura.
Especificações
•Drive XY de 10µm x 10µm
•Drive Z de 4µm
•Controladora NanoScope V 16bits
•Estágio para deslocamento XY da amostra manual
(2mm x 2mm)
•Câmara ambiental para controle de umidade
relativa de 5% até ambiente
•Microscópio óptico com objetiva de 10x de aumento
Técnicas
• Contato ou contato intermitente (AFM)
• Força pulsada (PeakForce Tapping)
• Força lateral (LF-AFM)
• Contraste de fase
• Força modulada
• Espectroscopia de força
• Força Magnética (MFM)
• Força Elétrica (EFM)
• Potencial de superfície (KPFM)
• PeakForce TUNA (PF-TUNA)
• Piezoresposta (PFM)
• Nanomecânica (PF-QNM)
Descrição
Especificações
Técnicas
Bruker - NanoIR2-s
Descrição
O AFM NanoIR2-s é um instrumento que associa experimentos de espectroscopia e imageamento de infravermelho com a resolução espacial da microscopia de força atômica, ultrapassando o limite de difração das técnicas de infravermelho convencionais. Assim, possibilita a correlação entre topografia e composição química de domínios na superfície com resolução espacial na ordem de 50nm. É adequado para varreduras de 2µm x 2µm até 80µm x 80µm. A limitação nas dimensões das amostras é no máximo de 20mm de diâmetro e 5mm de espessura.
Especificações
•Drive XY de 80µm x 80µm
•Drive Z de 4µm
•Estágio para deslocamento XY da amostra
motorizado (10mm x 10mm)
•Laser QCL (950cm-1 a 1900cm-1)
•Laser OPO (2700cm-1 a 3600cm-1)
•Câmara ambiental para controle de umidade
relativa de 5% até ambiente
•Microscópio óptico com objetiva de 10x de aumento
Técnicas
•Contato ou contato intermitente (AFM)
•Imageamento de infravermelho em contato ou
contato intermitente (AFM-IR)
•Espectroscopia de infravermelho (AFM-IR)
•Imageamento e espectroscopia de s-SNOM (950 cm-1 a 1150 cm-1 e 1700 cm-1 a 1850 cm-1)
•Espectroscopia de s-SNOM (apenas com laser CO2)
•Força lateral (LF-AFM)
•Contraste de fase
•Espectroscopia de força
•Força Modulada
•Força Magnética (MFM)
•Força Elétrica (EFM)
Descrição
Especificações
Técnicas
Bruker - NanoIR2-s
Descrição
O AFM NanoIR2-s é um instrumento que associa experimentos de espectroscopia e imageamento de infravermelho com a resolução espacial da microscopia de força atômica, ultrapassando o limite de difração das técnicas de infravermelho convencionais. Assim, possibilita a correlação entre topografia e composição química de domínios na superfície com resolução espacial na ordem de 50nm. É adequado para varreduras de 2µm x 2µm até 80µm x 80µm. A limitação nas dimensões das amostras é no máximo de 20mm de diâmetro e 5mm de espessura.
Especificações
•Drive XY de 80µm x 80µm
•Drive Z de 4µm
•Estágio para deslocamento XY da amostra
motorizado (10mm x 10mm)
•Laser QCL (950cm-1 a 1900cm-1)
•Laser OPO (2700cm-1 a 3600cm-1)
•Câmara ambiental para controle de umidade
relativa de 5% até ambiente
•Microscópio óptico com objetiva de 10x de aumento
Técnicas
•Contato ou contato intermitente (AFM)
•Imageamento de infravermelho em contato ou
contato intermitente (AFM-IR)
•Espectroscopia de infravermelho (AFM-IR)
•Imageamento e espectroscopia de s-SNOM (950 cm-1 a 1150 cm-1 e 1700 cm-1 a 1850 cm-1)
•Espectroscopia de s-SNOM (apenas com laser CO2)
•Força lateral (LF-AFM)
•Contraste de fase
•Espectroscopia de força
•Força Modulada
•Força Magnética (MFM)
•Força Elétrica (EFM)
Descrição
Especificações
Técnicas
Bruker - BioAFM (NanoWizard4 e CellHesion200)
Descrição
O BioAFM é uma plataforma experimental constituída por um microscópio de força atômica integrado com um módulo para injeção e extração microfluídico através da sonda, acoplados em um microscópio óptico invertido de fluorescência. Possibilita a realização de análises envolvendo amostras biológicas, desde sistemas bionanoestruturados até medidas espectroscópicas diretas em células vivas, medidas de força em membranas biológicas, adesão de células em diferentes substratos, funcionalização de sondas e medidas de interação com a superfície de células e tecidos. É adequado para varreduras de 500nm x 500nm até 100µm x 100µm. As amostras podem ser analisadas diretamente em placas de Petri, imersas em meio de cultura e com controle de temperatura, ou em lâminas de vidro ou porta amostras convencionais de AFM.
Especificações
•NanoWizard4 drive XY de 100µm x 100µm
•NanoWizard4 drive Z de 15µm
•CellHesion200 drive Z de 100µm
•Estágio para deslocamento XY da amostra
motorizado (20mm x 20mm)
•Sistema de pressurização Cytosurge (-1bar até 5bar)
•Controlador de temperatura para placa de Petri de
ambiente até 60°C
•Microscópio óptico invertido Zeiss Observer 5
•Lentes objetivas com aumento de
10x, 20x, 40x e 63x
•Sistema de fluorescência com filtros DAPI, GFP, TX
e DsRed
•Filtros de contraste de fase e DIC
•Microscópio óptico de topo com objetiva variável
com até 7x de aumento
Técnicas
• Contato ou contato intermitente (AFM)
• Força pulsada e nanomecânica (QI)
• Força lateral (LF-AFM)
• Contraste de fase
• Força modulada
• Espectroscopia de força
• Nanoinjeção e nanoextração
• Nanomanipulação
Descrição
Especificações
Técnicas
Bruker - BioAFM (NanoWizard4 e CellHesion200)
Descrição
O BioAFM é uma plataforma experimental constituída por um microscópio de força atômica integrado com um módulo para injeção e extração microfluídico através da sonda, acoplados em um microscópio óptico invertido de fluorescência. Possibilita a realização de análises envolvendo amostras biológicas, desde sistemas bionanoestruturados até medidas espectroscópicas diretas em células vivas, medidas de força em membranas biológicas, adesão de células em diferentes substratos, funcionalização de sondas e medidas de interação com a superfície de células e tecidos. É adequado para varreduras de 500nm x 500nm até 100µm x 100µm. As amostras podem ser analisadas diretamente em placas de Petri, imersas em meio de cultura e com controle de temperatura, ou em lâminas de vidro ou porta amostras convencionais de AFM.
Especificações
•NanoWizard4 drive XY de 100µm x 100µm
•NanoWizard4 drive Z de 15µm
•CellHesion200 drive Z de 100µm
•Estágio para deslocamento XY da amostra
motorizado (20mm x 20mm)
•Sistema de pressurização Cytosurge (-1bar até 5bar)
•Controlador de temperatura para placa de Petri de
ambiente até 60°C
•Microscópio óptico invertido Zeiss Observer 5
•Lentes objetivas com aumento de
10x, 20x, 40x e 63x
•Sistema de fluorescência com filtros DAPI, GFP, TX
e DsRed
•Filtros de contraste de fase e DIC
•Microscópio óptico de topo com objetiva variável
com até 7x de aumento
Técnicas
• Contato ou contato intermitente (AFM)
• Força pulsada e nanomecânica (QI)
• Força lateral (LF-AFM)
• Contraste de fase
• Força modulada
• Espectroscopia de força
• Nanoinjeção e nanoextração
• Nanomanipulação
Descrição
Especificações
Técnicas