ESPECTROSCOPIA

Espectrômetro Raman Confocal (Horiba, XploRA™ plus )

Descrição

A técnica de espectroscopia Raman confocal permite aquisição de espectros pontuais e mapeamentos Raman de (nano)materiais, incluindo ensaios com variação de temperatura de -196 e 600 °C. O acoplamento com o microscópio óptico possibilita obtermos uma visualização das partículas ou camadas com dimensões abaixo de 1 micrometro com alta magnificação e resolução espacial, inclusive em configuração tridimensional (3D). 

Especificações

• 3 lasers (473, 532 e 638 nm) e 6 filtros de potência (0,1, 1,10,25, 50, 100%)
• Detector do tipo CCD (1024×256 pixels)
• Microscópio óptico Olympus BX com 4 lentes (5, 10, 100x, e 50x LWD) e mesa XYZ acoplados ao equipamento
• Acessório para controle de temperatura para análises in situ (-196 e 600 °C)
• Software para aquisição e tratamento de dados: LabSpec 6 com os módulos NavMap™, NavSharp e ViewSharp.
• Amostras no estado líquido e sólido

Técnicas

• Espectros de Raman pontuais
• Mapeamentos lineares, 2D e 3D

Descrição

Especificações

Técnicas

Espectrômetro Raman Confocal (Horiba, XploRA™ plus )

Descrição

A técnica de espectroscopia Raman confocal permite aquisição de espectros pontuais e mapeamentos Raman de (nano)materiais, incluindo ensaios com variação de temperatura de -196 e 600 °C. O acoplamento com o microscópio óptico possibilita obtermos uma visualização das partículas ou camadas com dimensões abaixo de 1 micrometro com alta magnificação e resolução espacial, inclusive em configuração tridimensional (3D). 

Especificações

• 3 lasers (473, 532 e 638 nm) e 6 filtros de potência (0,1, 1,10,25, 50, 100%)
• Detector do tipo CCD (1024×256 pixels)
• Microscópio óptico Olympus BX com 4 lentes (5, 10, 100x, e 50x LWD) e mesa XYZ acoplados ao equipamento
• Acessório para controle de temperatura para análises in situ (-196 e 600 °C)
• Software para aquisição e tratamento de dados: LabSpec 6 com os módulos NavMap™, NavSharp e ViewSharp.
• Amostras no estado líquido e sólido

Técnicas

• Espectros de Raman pontuais
• Mapeamentos lineares, 2D e 3D

Descrição

Especificações

Técnicas

Espectrômetro de fotoelétrons excitados por raios X (XPS)

(Thermo Scientific, K-alpha)

Descrição

A técnica de XPS é utilizada para a caracterização química de camadas superficiais muito finas da ordem de 1-10 nmEla é fundamentada no efeito fotoelétrico. Resumidamente, as amostras são irradiadas com raios X e os fotoelétrons por elas emitidos são resolvidos em função de suas energias cinéticas. Através da análise dos espectros é possível obter a composição elementar, o estado químico e eletrônico dos elementos. 

Especificações

• Fonte de raios X: Al Ka microfoco com spot size variável
• Analisador: hemisférico de duplo foco com 128 canais de detecção
• Canhão de íons e cluster de íons
• Sistema de compensação de cargas
• Software Avantage para aquisição e tratamento de dados
• Tamanho máximo da amostra: 60 mm (c) x 60 mm (l) x 20 mm (h)

Técnicas

•Espectroscopia em área selecionada
•Composição elementar (limite de detecção 1%)
•Análise em alta resolução (limite de detecção 0,1%)
•Análise em profundidade,
inclusive de amostras isolantes
•Análise resolvida em ângulo
•Imagem composicional

Descrição

Especificações

Técnicas

Espectrômetro de fotoelétrons excitados por raios X (XPS)

(Thermo Scientific, K-alpha)

Descrição

A técnica de XPS é utilizada para a caracterização química de camadas superficiais muito finas da ordem de 1-10 nmEla é fundamentada no efeito fotoelétrico. Resumidamente, as amostras são irradiadas com raios X e os fotoelétrons por elas emitidos são resolvidos em função de suas energias cinéticas. Através da análise dos espectros é possível obter a composição elementar, o estado químico e eletrônico dos elementos. 

Especificações

• Fonte de raios X: Al Ka microfoco com spot size variável
• Analisador: hemisférico de duplo foco com 128 canais de detecção
• Canhão de íons e cluster de íons
• Sistema de compensação de cargas
• Software Avantage para aquisição e tratamento de dados
• Tamanho máximo da amostra: 60 mm (c) x 60 mm (l) x 20 mm (h)

Técnicas

•Espectroscopia em área selecionada
•Composição elementar (limite de detecção 1%)
•Análise em alta resolução (limite de detecção 0,1%)
•Análise em profundidade,
inclusive de amostras isolantes
•Análise resolvida em ângulo
•Imagem composicional

Descrição

Especificações

Técnicas

ESPALHAMENTO

Difratômetro de raios X (PANanalytical, X’Pert PRO XL)

Descrição

A técnica de difração de raios X permite a identificação da estrutura cristalina dos materiais, revelando detalhes sobre parâmetros da cela unitária e seu volume. Ainda com o banco de dados disponível a fase cristalográfica formada pode ser atribuída a partir da indexação dos picos, bem como obter informações de orientações cristalográficas preferenciais ou texturização. 

Especificações

• Fontes de raios X (cromo, cobre e molibdênio)
• Detectores (Propotional, X’Celerator e Scintillator)
• Feixes óticos incidentes (suportes fixos com atenuador automático, lentes de raios X e monocapilar)
• Feixes óticos difratados (suporte fixo e suporte de placa paralela)
• Porta-amostra vertical (uso de adesivos para amostras em pó)
• Tamanho máximo da amostra: 100 mm (c) 100 mm (l) 30 mm (h) de altura. Amostras maiores podem ser colocadas no equipamento, no entanto, a análise será limitada às dimensões acima.

Técnicas

•Reflectometria
•Texturização, análises de stress residual e micro difração de raios X

Descrição

Especificações

Técnicas

Difratômetro de raios X (PANanalytical, X’Pert PRO XL)

Descrição

A técnica de difração de raios X permite a identificação da estrutura cristalina dos materiais, revelando detalhes sobre parâmetros da cela unitária e seu volume. Ainda com o banco de dados disponível a fase cristalográfica formada pode ser atribuída a partir da indexação dos picos, bem como obter informações de orientações cristalográficas preferenciais ou texturização. 

Especificações

• Fontes de raios X (cromo, cobre e molibdênio)
• Detectores (Propotional, X’Celerator e Scintillator)
• Feixes óticos incidentes (suportes fixos com atenuador automático, lentes de raios X e monocapilar)
• Feixes óticos difratados (suporte fixo e suporte de placa paralela)
• Porta-amostra vertical (uso de adesivos para amostras em pó)
• Tamanho máximo da amostra: 100 mm (c) 100 mm (l) 30 mm (h) de altura. Amostras maiores podem ser colocadas no equipamento, no entanto, a análise será limitada às dimensões acima.

Técnicas

•Reflectometria
•Texturização, análises de stress residual e micro difração de raios X

Descrição

Especificações

Técnicas

Microtomografo de raios X (Bruker (SkyScan) 1272

Descrição

A técnica de microtomografia detecta raios X transmitidos através de diferentes tipos de materiais. Por meio de softwares especializados reconstrói tridimensionalmente as imagens 2D, revelando detalhes sobre a forma e a composição das estruturas internas, em escala micrométrica ou submicrométrica. Além de imagens 2D e 3D das amostras, essa técnica também permite a obtenção de dados quantitativos, como porosidade, densidade entre diferentes fases, cálculo de tamanho e distribuição de partículas, entre outros. 

Especificações

•Fonte de raios X: 20-100 kV
•Detector de raios X: câmera CCD de 16Mp (4904×3280 pixels) opticamente acoplada a um cintilador 
•Resolução: 0,35 mm na resolução máxima da câmera 
•Tamanho máximo da amostra: 75 mm de diâmetro e 70 mm de comprimento
•Softwares para aquisição e tratamento de imagens 2D e 3D (SkyScanNReconDataViewerCTVoxCTanCTVol) 

Descrição

Especificações

Microtomografo de raios X (Bruker (SkyScan) 1272)

Descrição

A técnica de microtomografia detecta raios X transmitidos através de diferentes tipos de materiais. Por meio de softwares especializados reconstrói tridimensionalmente as imagens 2D, revelando detalhes sobre a forma e a composição das estruturas internas, em escala micrométrica ou submicrométrica. Além de imagens 2D e 3D das amostras, essa técnica também permite a obtenção de dados quantitativos, como porosidade, densidade entre diferentes fases, cálculo de tamanho e distribuição de partículas, entre outros. 

Especificações

•Fonte de raios X: 20-100 kV
•Detector de raios X: câmera CCD de 16Mp (4904×3280 pixels) opticamente acoplada a um cintilador 
•Resolução: 0,35 mm na resolução máxima da câmera 
•Tamanho máximo da amostra: 75 mm de diâmetro e 70 mm de comprimento
•Softwares para aquisição e tratamento de imagens 2D e 3D (SkyScanNReconDataViewerCTVoxCTanCTVol) 

Descrição

Especificações

Difratômetro de raios X (Bruker, D8 Advance Eco)

Descrição

A técnica de Difração de raios X (DRX) é a principal análise cristalográfica para a determinação da estrutura dos materiais como grupo espacial de simetria, parâmetros de rede e microestrutura. O D8 possui óticas primária e secundária variáveis e diferentes tipos de porta amostras que juntos permitem a utilização de diferentes modos ou geometrias de operação num mesmo equipamento, incluindo a geometria Bragg-Brentano, feixe paralelo (espelho de Göbel) e alta-resolução com o monocromador de Ge. O Bruker D8 Advance Eco é perfeitamente apropriado para todos os tipos de amostra incluindo em pó, materiais bulk e filmes-finos (amorfos, policristalinos e epitaxiais).

Especificações

  • Duas fontes de radiação de Cu (8 keV, Qmax ≈ 8 Å-1) e Mo (17 keV, Qmax ≈ 17 Å-1);
  • Ótica primária TRIO composta por (1) Fenda Divergente Motorizada para Geometria Bragg-Brentano, (2) Espelho de Göbel para análise com feixe paralelo e (3) Monocromador de Germânio para HRXRD com baixa divergência e presença somente da Kα do Cu;
  • Quatro tipos de porta amostras como (1) estágio de rotação, (2) mesa motorizada, (3) forno de aquecimento até 1600 °C e (4) capilar para técnicas de espalhamento em modo de transmissão;
  • Ótica secundária TWIN composta por (1) fenda motorizada para geometria Bragg-Brentano e (2) Soller equatorial para geometria de feixe paralelo;
  • Detector LYNXEYE XE (modo pontual-0D e linha-1D) que dispensa o uso de filtro kβ e permite a remoção de 100% do sinal de fluorescência de Fe utilizando radiação de Cu;

Técnicas

  • Identificação de fase;
  • Análise quantitativa de fase;
  • Análise de microestrutura;
  • Determinação de estrutura e refinamento;
  • Grazing Incidence Diffraction (GID);
  • High-Resolution X-ray Diffraction (HRXRD);
  • X-ray Reflectometry (XRR);
  • Análise de Pair Distribution Function (PDF).

Descrição

Especificações

Técnicas