Assessoria de Comunicação em 22/12/2014
Cerca de 40 pessoas, entre professores e alunos de pós-graduação dos cursos de Física, Química e Odontologia, participaram de um curso teórico/prático de Microscopia de Varredura por Sonda (SPM), realizado na Universidade Federal Fluminense (UFF) entre os dias 9 e 13 de novembro. O treinamento, com carga horária de 32 horas (mais 32 acessórias), foi organizado por Carlos Alberto Rodrigues Costa, especialista em microscopia de varredura por sonda do Laboratório de Ciência de Superfícies (LCS/LNNano), junto a Eduardo Ariel Ponzio, professor do Grupo de Eletroquímica da UFF.
Os alunos tiveram uma introdução a técnicas de microscopias (ópticas e eletrônicas) e, mais detalhadamente, conheceram instrumentação, preparação de amostras e técnicas de SPM, nas sessões teóricas. Na prática, os tópicos foram: Microscopia de Força Atômica (AFM) de contato, contato intermitente e não contato; fases; Electric Force Microscopy (EFM) e Magnetic Force Microscopy (MFM); SPM em meio líquido e tratamento de imagens.