Assessoria de Comunicação em 25/11/2014
A oitava edição do Congresso de Microscopia dos Materiais (Micromat) aconteceu em Campinas entre os dias 16 a 20 de Novembro. Maior congresso de Microscopia de Materiais do país, o Micromat faz parte da agenda oficial da Sociedade Brasileira de Microscopia e Microanálise (SBMM) e esta edição foi organizada em conjunto com o Laboratório Nacional de Nanotecnologia (LNNano/CNPEM), onde parte da programação foi conduzida entre os dias 19 e 20 de Novembro.
O Micromat reuniu 178 participantes entre os dias 16 e 18 de Novembro e resultados de pesquisas recentes na área de materiais foram um dos focos do congresso, que recebeu convidados internacionais para as plenárias. Ji-Hwan (Universidade de Illinois – EUA), Paul Koenraad (Universidade Tecnológica de Eindhoven – Holanda), Rafal Dunin-Borkowski (Ernst Ruska Centre – Alemanha) e Raul Arenal (Universidade de Zaragoza – Espanha) compuseram as principais apresentações e o diretor do LNNano, Fernando Galembeck, realizou a abertura do evento, apresentando um histórico da microscopia nos últimos 40 anos. O congresso ainda contou com apresentações orais de renomados pesquisadores no Brasil e sessões de pôster. Constituíram também como destaque do evento as apresentações técnicas por partes das empresas participantes mostrando as possibilidades e aplicações de seus mais novos equipamentos.
Nos dias 19 e 20 de novembro o congresso também ofereceu uma série de cursos práticos em diversas vertentes da microscopia com especialistas trazidos pelas empresas e pessoal do LNNano. Estudantes, técnicos, professores e profissionais de empresas participaram de um dos 16 cursos oferecidos totalizando mais de 120 participantes. Cada minicurso abordou uma determinada técnica aplicada a Ciências dos Materiais, combinando cursos básicos e avançados. O VIII Micromat teve ainda apoio da Coordenação de Aperfeiçoamento de Pessoal de Nível Superior (Capes), da Fundação de Amparo à Pesquisa do Estado de São Paulo (FAPESP) e da Fundação de Amparo à Pesquisa do Estado do Rio de Janeiro (FAPERJ).
Andre Luiz Pinto, Presidente da SBMM, destaca que esta edição do MICROMAT buscou transcender o tradicional modelo de congresso buscando contribuir com a formação dos microscopistas brasileiros que gradativamente vão tendo acesso ao estado da arte em termos instrumentais.
Jefferson Bettini, representante do LNNano no comitê de organização, acredita que foi uma grande oportunidade de aprendizado e troca de experiências entre os participantes e profissionais da área.
Empresas internacionais que trabalham com diferentes equipamentos relacionados ao mundo da microscopia enviaram técnicos especializados para realizar apresentações sobre seus equipamentos e soluções. Dentre elas podemos citar FEI, Gatan, Hitachi, Jeol, Oxford Instruments, RMC Products, Bruker, Shimadzu e Tescan. Para os cursos foram utilizados todos os equipamentos no LNNano e algumas empresas também participaram dos cursos, trazendo cinco equipamentos, os quais foram instalados temporariamente no LNNano para a condução dos minicursos pelos próprios representantes das empresas.
A equipe interna do LNNano também participou ministrando alguns desses cursos. Rubia Figueredo Gouveia (LMN) ministrou o curso “Microtomografia de raios X”; Christoph Friedrich Deneke, Carlos Alberto Rodrigues Costa, Evandro Martin Lanzoni, Ailton José Garcia Junior, Saimon Filipe Covre da Silva e Yoshiteru Motoshima Filho, todos do grupo LCS, conduziram o curso “Introdução à instrumentação, princípios básicos de funcionamento e aplicações das microscopias de varredura por sonda – SPM. Microscopias de força atômica – AFM (contato, contato intermitente e não contato)” e Jefferson Bettini (LME) apresentou o “Microscopia Eletrônica de Transmissão (Imagem-Difração-Espectroscopia) para iniciantes”.
O estudante de mestrado pela Faculdade de Engenharia Mecânica (FEM) da Unicamp, Camilo Salvador, foi um dos participantes dos minicursos oferecidos no congresso. Segundo ele, os temas escolhidos para os cursos foram ponto positivo. “A parte de capacitação é essencial e deve sempre ser combinada com os tópicos abordados no congresso”, comenta.